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| Abstract No.: |
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Scheduled at:
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Wednesday, February 24, 2010, Saal I 4:45 PM
Entwicklungstendenzen für zuverlässige Systeme
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| Title: |
Zuverlässigkeit im Automobil durch besseres Verständnis der Ausfallmechanismen
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| Authors: |
Uwe Pape* / Volkswagen AG, D
Antje Steller / Volkswagen AG, Deutschland
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| Abstract: |
Der Wertschöpfungsanteil der Elektronik im Automobil wird in den kommenden Jahren ? u.a. auch durch neue Antriebe ? auf mehr als 25% steigen. Dies führt nicht nur zu mehr Sicherheit und Komfort für den Nutzer, sondern auch zu erweiterten herausforderungen durch Vernetzung und Verknüpfung der einzelnen Elektroniken (Steuergeräte, Sensoren). Bereits in der Entwicklungsphase ist daher eine genaue Kenntnis möglicher Fehlerquellen der Elektronik im Fahrzeug erforderlich. Diese Fehlerquellen können auch in den Lötverbindungen, z.B. durch starke Schädigungen in Form von Rissen, liegen. Bisherige Untersuchungen haben gezeigt, dass sich der Rissverlauf bei bleifreien Baugruppen gerade auch bei der Kombination mit Vibration und Schock deutlich anders darstellt als bei bleihaltigen Baugruppen. Das Verständnis dieser Ausfallmechanismen ist jedoch für die Abstellung von Fehlern von immenser Bedeutung. In verschiedenen Untersuchungen und auch Projekten (u.a. LiVe) wurde in ersten Ansätzen die Mikrostruktur und dabei speziell die Kornverteilung und -orientierung betrachtet. Die Möglichkeit, das Elektronenbeugungsverfahren (EBSD) für solche Analysen zu nutzen, wurde bei der Volkswagen AG im Rahmen einer Dissertation vertiefend geprüft. Dieser Beitrag soll die Entwicklung der Elektronik im Automobil, mögliche Fehlerquellen in den Lötverbindungen sowie auch Messergebnisse aus der Dissertation vorstellen.
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