Thursday, February 25, 2010
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Saal I
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Saal II
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08:30 AM
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Ressourceneffiziente Fertigung I
Session Chair: R. Dietrich / H. Schweigart
Korrosionsschutz elektronischer Baugruppen durch Schutzlackierungen
T. Fladung*
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Substrate und Bauelemente I
Session Chair: A. Biener / U. Bechtloff
Neue Microvias und Microstrukturen für Finepitch-BGAs ?
Sichere Verarbeitung von Micro-HDI-Schaltungen
C. Lehnberger*
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08:50 AM
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Ressourceneffiziente Lackierung von Baugruppen
G. Schulze*, A. Rost
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Die Auswahl des richtigen Basismaterials
M. Cygon*
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09:10 AM
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Abstract-No.:
2413
Prozessgestaltung zur ressourceneffizienten Verbindungstechnik
R. Diehm*
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Einfluss der Materialeigenschaften auf das Ausfallverhalten von Leiterplatten-Durchkontaktierungen
K. Halser*, L. Huang, E. Auerswald, R. Schmidt
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09:30 AM
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Parallele Prozesse ? bleihaltiges und bleifreies Reflowlöten auf einer Reflowlötanlage
H. Bell*, R. Dussler
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Basismaterialwahl unter anspruchsvollen technischen und wirtschaftlichen Rahmenbedingungen
V. Klafki*, A. Folge, J. Willuweit, W. Huang
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09:50 AM
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Erfahrungen zum optimierten Rework-Prozess
D. Doser*
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Immersion-Ag als Au-drahtbondbares und COB-geeignetes Universal-Finish für die multifunktionale Leiterplatte
M. Schneider-Ramelow*, J. Göhre
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10:15 PM |
Kaffeepause und Tabletop-Ausstellung
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11:15 AM
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Ressourceneffiziente Fertigung II
Session Chair: R. Schließer / E. Maiser
Modulares Anlagenkonzept zur Montage von Bauelementen auf Foliensubstraten zur kontinuierlichen, kostengünstigen Fertigung von elektronischen Baugruppen
A. Reinhardt*, J. Franke, M. Pfeffer
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Substrate und Bauelemente II
Session Chair: C. Weiß / J. Kostelnik
Symbiose aus Glas und Elektronik ? Basis für intelligente Eingabesysteme. Technologie und Srategie eines Systemlieferanten
N. Krütt*
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11:35 AM
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Überblick EuP-Richtlinie
C. Herrmann*
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Nanotechnologie für innovative Endoberflächen mit dem Organischen Metall
N. Arendt*
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11:55 AM
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Durchgängige Softwarelösung für ein ganzheitliches Reparatur- und Testdatenmanagement in der Elektronikfertigung
H. Türck, P. Erhard*, F. Stieber
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Fehlermechanismen an Leiterplattenmetallisierungen für bleifrei gelötete Packageaufbauten
S. Bennemann, M. Simon*, F. Altmann, M. Petzold
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12:15 PM
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Identifikation und Traceability in der Elektro- und Elektronikindustrie ?
Leitfaden für die gesamte Liefer- und Wertschöpfungskette
R. Heigl*
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Zuverlässigkeit von Substraten der Leistungselektronik gegenüber Temperaturzyklen im Vergleich
A. Roth*, M. Knörr, M. Ponomarenko
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12:35 PM |
Abschlussstatement im H�lderlinsaal
U. Bechtloff und K.-D. Lang
Mittagsimbiss
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